| 姓名： | 馬成福 | 性別： | 男 |
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| 學科類別： | 物理化學/儀器科學與技術 | 職務： | |
| 學歷： | 博士研究生 | 職稱： | 副研究員 |
| 電話： | 傳真： | ||
| 電子郵件： | chfuma@www.hqwhcm.com | ||
| 通訊地址： | 蘭州市天水中路18號 | ||
簡 歷：
馬成福，工學博士，中國科學院蘭州化學物理研究所特聘青年研究員，博士生導師。2011年、2017年分別在中國科學技術大學測控技術與儀器專業(yè)、儀器科學與技術專業(yè)獲工學學士及工學博士學位，分別在德國哥廷根大學、中國科學技術大學、德國德累斯頓工業(yè)大學求學與工作。研究方向為納米摩擦學，主要開展新型原子力顯微鏡成像模式開發(fā)、納米摩擦與潤滑機理研究、納米尺度材料力學表征與亞表面無損檢測等工作，主持國家自然科學基金面上項目、青年科學基金等科研項目多項，相關研究成果發(fā)表在ACS Nano、Langmuir、Appl. Phys. Lett.、J. Appl. Phys.等權威期刊上，受邀為相關領域的重要專著撰寫其中一個章節(jié)。
工作經(jīng)歷：
2024.08至今，中國科學院蘭州化學物理研究所，特聘青年研究員
2019.12~2024.07，中國科學技術大學，特任副研究員
2022.05~2023.05，德國德累斯頓工業(yè)大學，博士后（國家公派）
2017.12~2019.11，中國科學技術大學，博士后
2011.09~2012.07，寧夏海原縣西安中學，支教教師（研究生支教團）
教育經(jīng)歷：
2011.09~2017.11，中國科學技術大學，碩博連讀研究生/博士
2016-10~2017-10，德國哥廷根大學，聯(lián)合培養(yǎng)博士生（國家公派）
2007-09~2011-07，中國科學技術大學，本科/學士
研究方向：
原子力顯微術、納米摩擦學、納米力學、表面與界面科學
獲獎及榮譽：
1.朱李月華獎學金，中國科學院，2017
2.光華獎學金，光華教育基金會，2015
3.中衛(wèi)市優(yōu)秀共青團員，共青團中衛(wèi)市委員會，2012
4.優(yōu)秀支教隊員，中共海原縣委員會、海原縣人民政府，2012
5.優(yōu)秀學生獎學金（銀獎），中國科學技術大學，2010
6.優(yōu)秀學生獎學金（銅獎），中國科學技術大學，2009
承擔科研項目：
1.國家自然科學基金面上項目，在研，主持，2024-01~2027-12
2.蘭州化學物理研究所特聘人才計劃，在研，主持，2024-08~2029-08
3.國家自然科學基金青年科學基金，結題，主持，2021-01~2023-12
4.合肥市自然科學基金項目，結題，主持，2021-07~2023-06
5.中國科學技術大學青年創(chuàng)新基金，結題，主持，2020-01~2021-12
代表論著：
期刊論文：
1.?C. Ma* and F. Zhou. Surface and Subsurface Mechanical Testing at the Nanoscale: A Review on Ultrasonic Atomic Force Microscopy. Langmuir 41(24),15203–15220 (2025).
2.?C. Ma*,Y. Li,C. Zhou,Y. Chen*,E. Gnecco,and J. Chu. Shear Anisotropy Domains on Graphene Revealed by In-Plane Elastic Imaging. ACS Nano 18(40),27317–27326 (2024).
3.?C. Ma*,X. Yang,Y. Chen*,and J. Chu. Mechanical Mapping of Nanoblisters Confined by Two-Dimensional Materials Reveals Complex Ridge Patterns. Langmuir 40(16),8409–8417 (2024).
4.?C. Ma*,Y. Chen*,and J. Chu. Time-Dependent Pinning of Nanoblisters Confined by Two-Dimensional Sheets. Part 1: Scaling Law and Hydrostatic Pressure. Langmuir 39(2),701-708 (2023).
5.?C. Ma*,Y. Chen*,and J. Chu. Time-Dependent Pinning of Nanoblisters Confined by Two-Dimensional Sheets. Part 2: Contact Line Pinning. Langmuir 39(2),709-716 (2023).
6.?X. Yang,C. Ma*,X. Wang,and C. Zhou*. Inner-paddled atomic force microscopy cantilever for rapid mechanical mapping. Sensor Actuat. A-Phys. 359,114488 (2023).
7.?C. Ma*,C. Zhou,J. Peng,Y. Chen,W. Arnold,J. Chu. Thermal noise in contact atomic force microscopy. J. Appl. Phys. 129(23),234303 (2021).
8.?C. Ma and W. Arnold*. Nanoscale ultrasonic subsurface imaging with atomic force microscopy. J. Appl. Phys. 128(18),180901 (2020).
9.?C. Ma*,W. Wang,Y. Chen*,W. Arnold,and J. Chu. Depth-sensing using AFM contact-resonance imaging and spectroscopy at the nanoscale. J. Appl. Phys. 126(12),124302 (2019).
10.?C. Ma*,V. Pfahl,Z. Wang,Y. Chen,J. Chu,M. K. Phani,A. Kumar,W. Arnold,and K. Samwer. Stick-to-sliding transition in contact-resonance atomic force microscopy. Appl. Phys. Lett. 113(8),083102 (2018).
11.?C. Ma,Y. Chen*,W. Arnold,and J. Chu. Detection of subsurface cavity structures using contact-resonance atomic force microscopy. J. Appl. Phys. 121(15),154301 (2017).
12.?C. Ma,Y. Chen*,J. Chen,and J. Chu. Measuring stiffness and residual stress of thin films by contact resonance atomic force microscopy. Appl. Phys. Express 9(11),116601 (2016).
專著章節(jié)：
1.?C. Ma* and W. Arnold. Ultrasonic Atomic Force Microscopies in Nanotribology. In: Fundamentals of Friction and Wear on the Nanoscale,edited by E. Gnecco and E. Meyer. pp. 39-56. Springer,Cham,2024.
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